Agilent Technologies проведёт семинар для специалистов

В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании AgilentMasakiYamamoto, технические специалисты высочайшего класса компаний AgilentTechnologies, CascadeMicrotech и MauryMicrowave.

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания AgilentTechnologies совместно с компанией CascadeMicrotech и MauryMicrowave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании AgilentTechnologies, зондовые станции компании CascadeMicrotech и импедансные тюнеры компании MauryMicrowave.

Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России уже на протяжении многих лет успешно используются параметрические анализаторы AgilentB1500A и B1505A, которые под управлением графической среды пользователя AgilentEasyExpert становятся мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Многие подобные измерения проводятся на полупроводниковых пластинах.

В ассортименте компании также есть серия экономичных источников/измерителей AgilentB2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210В и 3А (10А в импульсном режиме). Недавно компания расширила эту серию и представила революционно новое поколение источников/измерителей AgilentB2960A, которые обеспечивают лучшее в своем классе разрешение, широкий диапазон выходных биполярных сигналов, а также исключительно низкий уровень фазовых шумов, что важно при разработке ГУН, АЦП/ЦАП и т.д.

Для измерений в области СВЧ/миллиметрового диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме и измерения X-параметров и многих других измерений, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии AgilentPNA-Xс частотным диапазоном до 67 ГГц.

Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом, отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV измерений и задач типа «loadpull», компания MauryMicrowaves предлагает импедансные тюнеры с ручным или автоматическим управлением, программное обеспечение «activeloadpull» для AgilentPNA-X (без использования механических импедансных тюнеров), а также специальное решение от MauryMicrowaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF измерения.

Доклады, представленные на семинаре, будут посвящены новым решениям AgilentTechnologies, CascadeMicrotech и MauryMicrowave в области тестирования полупроводниковых устройств.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться. Подробная информация на сайтеwww.agilent.ru/find/russia_events  или по телефону +7 (495) 7973928.