Rambler's Top100
 
Все новости Новости компаний

Agilent Technologies проведёт семинар для специалистов

10 июня 2013

Компании Agilent Technologies Inc. (NYSE: A), CascadeMicrotech и MauryMicrowavesприглашают на семинар «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования AgilentTechnologies, зондовых станций CascadeMicrotech и импедансных тюнеров MauryMicrowave». Семинар пройдет в Москве, 26 июня эксперты Agilent Technologies  познакомят слушателей с новейшими контрольно-измерительными технологиями для измерения в СВЧ- и мм-диапазоне и 27 июня – с решениями для измерений по постоянному току (до 10кВ/1500А). 

 

В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании AgilentMasakiYamamoto, технические специалисты высочайшего класса компаний AgilentTechnologies, CascadeMicrotech и MauryMicrowave.

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания AgilentTechnologies совместно с компанией CascadeMicrotech и MauryMicrowave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании AgilentTechnologies, зондовые станции компании CascadeMicrotech и импедансные тюнеры компании MauryMicrowave.

Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России уже на протяжении многих лет успешно используются параметрические анализаторы AgilentB1500A и B1505A, которые под управлением графической среды пользователя AgilentEasyExpert становятся мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Многие подобные измерения проводятся на полупроводниковых пластинах.

 

В ассортименте компании также есть серия экономичных источников/измерителей AgilentB2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210В и 3А (10А в импульсном режиме). Недавно компания расширила эту серию и представила революционно новое поколение источников/измерителей AgilentB2960A, которые обеспечивают лучшее в своем классе разрешение, широкий диапазон выходных биполярных сигналов, а также исключительно низкий уровень фазовых шумов, что важно при разработке ГУН, АЦП/ЦАП и т.д.

 

Для измерений в области СВЧ/миллиметрового диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме и измерения X-параметров и многих других измерений, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии AgilentPNA-Xс частотным диапазоном до 67 ГГц.

 

Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом, отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV измерений и задач типа «loadpull», компания MauryMicrowaves предлагает импедансные тюнеры с ручным или автоматическим управлением, программное обеспечение «activeloadpull» для AgilentPNA-X (без использования механических импедансных тюнеров), а также специальное решение от MauryMicrowaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF измерения.

Доклады, представленные на семинаре, будут посвящены новым решениям AgilentTechnologies, CascadeMicrotech и MauryMicrowave в области тестирования полупроводниковых устройств.

 

 

Программа семинаров

 

 

 

День 1. 26 июня 2013

Измерения в СВЧ- и мм-диапазоне

 

  • Моделирование вольт-амперных характеристик СВЧ-транзисторов в импульсном режиме
  • Измерения характеристик устройств с переменным импедансом источника и нагрузки
  • Теория и практика измерений Х-параметров
  • Проектирование усилителя в САПР AdvancedDesignSystem на основе измеренных данных и модели
  • Анализ устойчивости систем
  • Измерение шумовых параметров

 

День 2. 27 июня 2013

Измерения по постоянному току (до 10кВ/1500А)

 

  • Обзор решений AgilentTechnologies для параметрического тестирования
  • Расширение возможностей AgilentEasyExpert (версия 5.5), экспорт данных в .mdm формат
  • Новые измерительные возможности B1500A 
  • Расширение измерительных возможностей B1505A до 10кВ/1500А (тестирование IGBT, SiC, GaN)
  • Новая серия источников/измерителей с ультранизкими фазовыми шумами AgilentB2960A
  • Новые возможности системы Agilent 4080 для тестирования на производстве
  • Новые возможности IV-/CV-измерений на пластине с помощью зондовых станций

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться. Подробная информация на сайтеwww.agilent.ru/find/russia_events  или по телефону +7 (495) 7973928.

Поделиться:
Заметили неточность или опечатку в тексте? Выделите её мышкой и нажмите: Ctrl + Enter. Спасибо!

Оставить свой комментарий:

Для комментирования необходимо авторизоваться!

Комментарии по материалу

Данный материал еще не комментировался.