• Новости
• Блоги
• Аналитика
• Новости компаний
• В СНГ и в мире
• Анонсы

Keysight Technologies представит инновационные решения для проектирования и измерений

Компания KeysightTechnologies продемонстрирует множество новейших решений на Европейской микроволновой неделе 2014, которая пройдёт 7-9 октября в Риме в выставочном комплексе FieradiRoma. Контрольно-измерительные решения компании адресованы инженерам, проектирующим и тестирующим компоненты РЛС, антенны и беспроводные устройства следующего поколения.

Компания Keysight, уже одиннадцать лет выступающая спонсором Европейской микроволновой недели, проведёт семинары и продемонстрирует контрольно-измерительные решения для аэрокосмической и оборонной промышленности, измерений параметров полупроводниковых приборов, моделирования с помощью САПР ADS компании Keysight, научных исследований и образования. Ниже перечислены основные темы планируемых демонстраций.

Захват и анализ труднорегистрируемых сигналов, анализ переходных процессов с помощью осциллографов и анализаторов сигналов Keysight. Контрольно-измерительная система, оснащенная средствами анализа спектра в режиме реального времени, поможет проанализировать, что происходит внутри изделия, и решить технические проблемы в области цифровой связи и радиолокации, где требуется демодуляция и анализ широкополосных сигналов.

Генерация сигналов в диапазоне от 0 до 40 ГГц для моделирования систем с несколькими излучателями. Циклы разработки, создания и перепрограммирования приёмников РЭБ опираются на инновационные контрольно-измерительные решения, повышающие эффективность проектирования и реализации.

Решение для многоканальной калибровки антенн сокращает время калибровки антенн с нескольких недель до нескольких дней. Высокопроизводительный дискретизатор формата AXIeс несколькими когерентными каналами и цифровой понижающий преобразователь частоты позволяют работать одновременно с несколькими антенными элементами, что ускоряет измерения фазовых и амплитудных характеристик антенн и повышает их точность. 

Измерения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь диэлектрических материалов на частотах от десятков гигагерц до терагерц дают важную информацию для проектирования, моделирования, изготовления и контроля качества материалов и полупроводниковых приборов. Эта информация особенно важна для материалов, поглощающих радиоизлучение, диэлектрических подложек, микроволновых печей и биотоплива, где требуется точное измерение электромагнитных свойств вещества.

Контрольно-измерительные приборы, такие как СВЧ-анализаторы цепей серии PNA-X, предлагают разнообразные встроенные функции, позволяющие измерять полные параметры активных устройств, таких как усилители, смесители и преобразователи частоты.

Последние достижения в области измерений коэффициента шума по методу Y-фактора (метод двух температур) с помощью новых предусилителей с USB-интерфейсом, источников шума с лучшей калибровкой и лучшей оценки погрешности рассогласования. Применяемая в анализаторах серии PNA-X технология холодного шума и очень точная методика коррекции источника позволяет измерять коэффициент шума с высочайшей точностью – особенно в сложной обстановке, например, при выполнении измерений на полупроводниковой пластине.

Cовместное электромагнитное/схемотехническое моделирование с помощью САПР ADS Keysight, позволяющее выполнять свипирование/оптимизацию с общей архитектурой базы данных в формате OpenAccess. В ходе демонстраций будут показаны примеры 3D ЭМ моделирования в частотной и временной областях, включая анализ ЭМП/ЭМС.

Проектирование модулей ВЧ-усилителей, использующих несколько технологий, с помощью САПР ADS. В ходе демонстрации будет представлен подход к проектированию модуля, настройка рабочей среды, объединение нескольких технологий, таких как настройка параметров подложки, архитектурный план, разводка, проектирование индуктивностей, полное моделирование модуля, проверка и экспорт данных для изготовления.

Проектирование многофункциональных и многопортовых масштабируемых испытательных стендов для исследовательских проектов с помощью измерительных систем на основе PXI. Преимущества одновременных измерений, коммутаторов, аттенюаторов и других компонентов, интегрированных в единое шасси. Измерения с использованием программного обеспечения Keysight, которое позволяет сопоставлять измерения, выполненные с помощью традиционных настольных приборов, и измерения, выполненные приборами формата PXI, в течение всего цикла разработки изделия.

Генерирация и анализ различных коммуникационных сигналов миллиметрового диапазона, включая 802.11ad, 5G и сигналов радиорелейных каналов, с помощью гибкого набора решений, включая генераторы, повышающие и понижающие преобразователи частоты, анализаторы и датчики мощности.

Участники семинаров «Поговори с экспертом» встретятся с ведущими специалистами компании Keysight и пообщаются на следующие темы:

• Новые приложения для аэрокосмической и оборонной промышленности, требующие применения специальных контрольно-измерительных решений.
• Последние достижения в области измерения параметров материалов и полупроводниковых приборов.
• Проектирования с помощью САПР Keysight.
• Будущее исследований в области радиосвязи: переход к более высоким частотам и широкополосным сигналам.
• Основы ВЧ и СВЧ измерений.

Оставить свой комментарий:

Комментарии по материалу