Журнал ИКС

Разделы сайта

• Новости
• Блоги
• Аналитика
• Новости компаний
• В СНГ и в мире
• Анонсы

Календарь

		Апрель 2024
Пн	Вт	Ср	Чт	Пт	Сб	Вс
1	2	3	4	5	6	7
8	9	10	11	12	13	14
15	16	17	18	19	20	21
22	23	24	25	26	27	28
29	30

Ближайшие события

Keysight Technologies помогает ускорить проведения испытаний с помощью новой системы сбора данных/коммутации

17 декабря 2018

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске системы сбора данных/коммутации Keysight DAQ970A, позволяющей ускорить проведение испытаний за счёт повышения скорости измерений и сканирования, расширения типов и диапазонов измерений и упрощения автоматизации тестовых последовательностей.

Повышение сложности проектируемых устройств неизбежно порождает новые требования к их испытаниям. Для эффективного тестирования нужны приборы с высокой скоростью измерений и возможностью регистрации нескольких сигналов разного типа. Система сбора данных/коммутации Keysight DAQ970A позволяет выполнять измерения разных типов в различных диапазонах, предлагая высокие скорости сканирования и упрощённые методы автоматизации тестов.

Система Keysight DAQ970A использует прикладное программное обеспечение BenchVue DAQ, которое позволяет быстро создавать автоматические тесты, дистанционно настраивать параметры приборов и регистрировать сообщения об их состоянии, а также анализировать результаты измерений. Встроенные функции создания испытательных последовательностей автоматизируют настройку прибора и построение измерительных последовательностей, а новый интуитивно понятный графический интерфейс предлагает простую систему меню, позволяя быстро выполнять все операции прямо с передней панели прибора.

Система сбора данных/коммутации компании Keysight улучшает проверку разрабатываемых устройств и ускоряет разработку тестов за счёт следующих возможностей:

• скорость до 5 000 измерений в секунду и сканировании до 450 каналов в секунду
• повышенная точность измерений за счёт применения встроенного 6½-разрядного цифрового мультиметра и автокалибровки, компенсирующей внутренний температурный дрейф
• всеобъемлющие испытания большего числа устройств с использованием расширенных измерительных возможностей и диапазонов напряжения (300 В), тока (1 мкА пост. и 100 мкА перем.), сопротивления (1000 МОм), ёмкости (1 нФ – 100 кФ) и функции прозвонки диодов
• несколько форматов представления информации (численный, столбчатая диаграмма, шкала, временной график и гистограмма), облегчающих контроль результатов
• новый полупроводниковый мультиплексор, обладающий более высокой скоростью сканирования и долговечностью по сравнению с мультиплексорами на основе электромеханических реле.

Оставить свой комментарий:

Комментарии по материалу

Данный материал еще не комментировался.

Заметили ошибку в тексте? Выделите её мышью и нажмите Ctrl+Enter. Спасибо!