• Новости
• Блоги
• Аналитика
• Новости компаний
• В СНГ и в мире
• Анонсы

День открытых дверей в лаборатории Keysight

Keysight  Technologies проводит 15 и 16 сентября 2015 День открытых дверей в лаборатории Keysight, в рамках которого все желающие смогут познакомиться с измерительными решениями для разработки и конструирования радиоэлектронной аппаратуры, используемой в электронной, аэрокосмической, оборонной, телекоммуникационной отраслях промышленности.

В московской демо-лаборатории будут выставлены все имеющиеся в наличии приборы Keysight, а заказчики смогут выполнить любые измерения. Эксперты Keysight проведут лабораторные работы и помогут провести измерения параметров устройств и запротоколировать результаты измерений, проведенных на выбранных измерительных стендах.

Будут организованы следующие стенды:

1.     Многопортовые измерения и уникальные возможности векторного анализатора цепей в формате PXI

2.     Скалярный анализ параметров цепей при помощи анализаторов и генераторов сигналов

3.     Измерения параметров каналов (ГВЗ, АЧХ) с помощью широкополосных генераторов и анализаторов с 89601B

4.     Измерение S-параметров и профиля импеданса на осциллографах

5.     Тестирование пассивных устройств на физическом уровне на базе осциллографов 86100D

6.     Измерение параметров антенн. Специальное решение для учебных заведений

7.     Автоматизация измерения в ближней и дальней зоне на базе PNA с внешним генератором

8.     Измерение параметров материалов методом линии передачи и методом свободного пространства

9.     Автоматизированные измерения параметров ППМ

10.  Определение характера и места возникновения неоднородности в линиях передачи при помощи портативных анализаторов FieldFox

11.  Измерения на анализаторах FieldFox в микроволновом диапазоне частот 

12.  Измерение и анализ параметров СВЧ-транзисторов методом варьирования импеданса нагрузки

13.  Основы работы с измерительной установкой Load-Pull компании Maury 

14.  Бюджетные анализаторы цепей для тестирования пассивных и активных компонентов 

15.  Измерения с самым широким динамическим диапазоном на E5080A  

16.  Измерение КШ МШУ с векторной коррекцией на анализаторах цепей

17.  Измерение устройств с преобразованием частоты с векторной коррекцией на анализаторах цепей

18.  Теория и практика калибровки и поверки векторных анализаторов цепей

Оставить свой комментарий:

Комментарии по материалу